一、普通線圈測試模式

匝間耐壓測試儀對被測線圈進(jìn)行測試。

液晶顯示器的波形顯示區(qū)右下角顯示“NORMAL”字符表示非外部“RS232”附件的常規(guī)模式。

1. 任何時(shí)候按下測試鍵，“測試”字符高亮（即白底藍(lán)字）儀器進(jìn)入待測狀態(tài)。

載入的為上一次測試時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)波形及其參數(shù)。若需更換標(biāo)準(zhǔn)波形及其參數(shù)，請先進(jìn)入載入狀態(tài)加載相應(yīng)編號的標(biāo)準(zhǔn)波形及其參數(shù)；或進(jìn)入編輯狀態(tài)重新編輯標(biāo)準(zhǔn)波形及其參數(shù)。

測試狀態(tài)下，ESC鍵可用作顯示刷新確認(rèn)。

2. 將高壓測試端頭可靠地連接到被測線圈兩端。

3. 按下啟動START鍵（或由外部設(shè)備給出“START”信號）儀器測試啟動。

每測試一次液晶顯示器即顯示測試波形及其判斷結(jié)果。

沖擊次數(shù)設(shè)定為1~99范圍時(shí)，測試結(jié)果若有不合格或測試次數(shù)到時(shí)儀器停止測試，進(jìn)入待測狀態(tài)。沖擊次數(shù)設(shè)定為連續(xù)INT方式時(shí)，儀器連續(xù)測試。只有按下停止鍵時(shí)，儀器停止測試，進(jìn)入待測狀態(tài)。

4. 測試結(jié)果的顯示方法：

對已選擇的判斷項(xiàng)全部合格時(shí)，顯示“合格”。若有一項(xiàng)不合格時(shí)顯示“不合格”，參數(shù)高亮顯示。對已選擇的判斷項(xiàng)顯示計(jì)算結(jié)果，未選擇的判斷項(xiàng)顯示“OFF”。詳細(xì)信息可進(jìn)入查詢狀態(tài)下進(jìn)行查詢。

“A”代表“AREA SIZE”： 面積比較

“D”代表“DIFF AREA”： 面積差比較

“F”代表“FLUTTER VALUE”： 電暈放電量比較

“C”代表“ZERO CROSS”： 相位比較

5. HANDER控制口方式時(shí)，對于多繞組的線圈測試，在一個(gè)繞組測試完畢，需由外部設(shè)備給出“READY”信號置位，退出測試，方可啟動另一繞組的測試。

6. 出現(xiàn)不合格繞組時(shí)（不合格聲響方式），伴隨有聲光報(bào)警，按下停止鍵（或由外部設(shè)備給出“STOP”信號），報(bào)警結(jié)束，并準(zhǔn)備下一次測試。

7. 任何時(shí)候按下停止鍵（或由外部設(shè)備給出“STOP”信號），儀器停止測試,進(jìn)入待測狀態(tài)。

二、快速測試模式（普通線圈、三相電機(jī)）

00號存儲單元為快速測試模式特定單元?？焖贉y試模式下，調(diào)節(jié)▲、▼鍵，不同選擇（0~7檔：即不同采樣頻率）的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當(dāng)出現(xiàn)理想波形后，只有按下OK鍵,當(dāng)前波形方可被存儲為標(biāo)準(zhǔn)波形。

2.1普通線圈快速測試模式

1． 載入00號存儲單元（快速測試專用）的設(shè)置，儀器進(jìn)入快速測試待測狀態(tài)。

2． 連接好被測線圈繞組。

3． 按下啟動START鍵（或由外部腳踏開關(guān)給出“START”信號）儀器測試啟動。

4． 按下OK鍵,當(dāng)前波形被存儲為標(biāo)準(zhǔn)波形。OK鍵確認(rèn)前，可調(diào)節(jié)▲、▼鍵進(jìn)行波形選擇。

5． 其他基本操作參照4.1.1 普通線圈測試模式。

2.2三相電機(jī)快速測試模式

1． 載入00號存儲單元（快速測試專用）的設(shè)置，儀器進(jìn)入快速測試待測狀態(tài)。

2． 連接好三相電機(jī)繞組中任意一組線圈。

3． 按下啟動START鍵（或由外部腳踏開關(guān)給出“START”信號）儀器測試啟動。

4． 按下OK鍵,當(dāng)前波形被存儲為標(biāo)準(zhǔn)波形。OK鍵確認(rèn)前，可調(diào)節(jié)▲、▼鍵進(jìn)行波形選擇。

5． 再依次接上另外二組線圈分別進(jìn)行測試?；静僮鲄⒄?.1.1 普通線圈測試模式。

三、RS232附件測試模式（多繞組型）

對多繞組線圈進(jìn)行測試。

1． 當(dāng)RS232附件（多通道轉(zhuǎn)換器）插上時(shí)，儀器自動進(jìn)入RS232附件測試模式。液晶顯示器的波形顯示區(qū)右下角“NORMAL”字符改顯外部“RS232”附件模式字符。

2． RS232附件多繞組測試模式時(shí)，相關(guān)存儲單元按照相應(yīng)RS232附件要求調(diào)入。若相關(guān)存儲單元組中有繞組單元沒有編輯過，則調(diào)入時(shí)顯示器右上角會顯示“沒有編輯波形參數(shù)”以提示用戶應(yīng)對該繞組進(jìn)行編輯操作。 [即：此時(shí)按下編輯鍵轉(zhuǎn)入編輯狀態(tài)，再按下▼光標(biāo)健至波形選擇（采樣頻率SF），調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵至波形選擇參數(shù)處,調(diào)節(jié)▲、▼光標(biāo)鍵，不同采樣頻率的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當(dāng)出現(xiàn)理想波形后，再按下OK鍵保存并退出至待測狀態(tài)。]

3． RS232附件測試模式時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)波形及參數(shù)按外部RS232信號進(jìn)行控制和調(diào)入，并進(jìn)行測試。RS232附件功能及操作按其附件具體說明書進(jìn)行。

4． 其他基本操作參照4.1.1 普通線圈測試模式及4.1.2.1 普通線圈快速測試模式。

四、腳控(FOOT CONTROL)使用

1. 當(dāng)腳控連接好時(shí),外部腳控優(yōu)先,面板START鍵被屏蔽。取消腳控連接，面板START鍵恢復(fù)。

2. 測試狀態(tài)下，當(dāng)腳控踏下時(shí)，其功能相當(dāng)于面板START鍵，但只有當(dāng)腳控放開后，第二次啟動方才有效。

3. 測試狀態(tài)下，當(dāng)腳控放開時(shí)，其功能相當(dāng)于面板STOP鍵。

五、載入

調(diào)出已經(jīng)存儲過的波形及參數(shù)。

1． 任何時(shí)候按下載入鍵，儀器進(jìn)入載入狀態(tài)。

其中： No ——編號

NAME ——代號

    HV ——脈沖電壓

SF(ST) ——采頻率樣 (周期) [即：波形選擇]

PLS   ——沖擊脈沖次數(shù)

A   ——面積判別

D   ——面積差判別

F   ——電暈放電量判別

C   ——相位判別

2． 移動▲、▼光標(biāo)健，選定編號，按OK鍵確認(rèn)，該波形被選定，并且轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)；按ESC鍵直接退出，不選定任何波形，并且轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

3． 00號存儲單元為三相電機(jī)專用單元。01~99存儲單元為普通線圈存儲單元。

六、編輯

標(biāo)準(zhǔn)波形及參數(shù)編輯

對某一種線圈的測試，首先要根據(jù)測試模式（普通線圈或RS232附件模式）進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)線圈的波形采集，并且依此為根據(jù)來判斷其它線圈的優(yōu)劣。

任何時(shí)候按下編輯鍵，儀器進(jìn)入編輯狀態(tài)。

將高壓測試端頭可靠地連接到標(biāo)準(zhǔn)線圈兩端。

當(dāng)設(shè)定項(xiàng)高亮（即白底藍(lán)字）時(shí)，調(diào)節(jié)▲、▼光標(biāo)鍵轉(zhuǎn)入相應(yīng)設(shè)定項(xiàng)目--沖擊電壓、波形選擇（采樣頻率）、沖擊次數(shù)、面積比較、面積差比較、電暈量比較、相位比較、保存。

2． 設(shè)定測試條件：

a） 設(shè)置沖擊電壓HV值：

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到HV電壓參數(shù)處，相應(yīng)數(shù)字被選中（高亮），用▲、▼光標(biāo)鍵調(diào)節(jié)電壓到所需電壓值，?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所調(diào)節(jié)數(shù)字被確認(rèn)。

b） 波形選擇（設(shè)置波形采樣頻率SF值）：

0~7檔分別代表波形采樣頻率SF值：10MHz/1、10MHz/2、10MHz/4、10MHz/8、10MHz/16、10MHz/32、10MHz/64、10MHz/128。

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到波形選擇（采樣頻率SF）參數(shù)處,測試儀進(jìn)入波形采集狀態(tài)：。

調(diào)節(jié)▲、▼光標(biāo)鍵，不同采樣頻率的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當(dāng)出現(xiàn)理想波形后，當(dāng)?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所選波形被確認(rèn)。

c） 設(shè)置沖擊次數(shù)PLS：

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到脈沖沖擊次數(shù)PLS參數(shù)處，通過▲、▼光標(biāo)鍵設(shè)定脈沖沖擊次數(shù)，當(dāng)?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所設(shè)定數(shù)字被確認(rèn)。

脈沖沖擊次數(shù)設(shè)定范圍是1~99次，當(dāng)超過99次時(shí)，沖擊次數(shù)為連續(xù)INT。（連續(xù)方式時(shí)，按下停止鍵,儀器即可停止測試并進(jìn)入待測狀態(tài)。）

3． 設(shè)定判斷條件：

線圈質(zhì)量檢查判斷有4種方法（面積比較法、面積差比較法、電暈放電量比較法、相位比較法）。

四種判斷方法可以組合使用，也可以單獨(dú)使用。當(dāng)選用某種方法時(shí)，其選擇標(biāo)記為?（或“Y” YES）；當(dāng)禁用某種方法時(shí)，其選擇標(biāo)記為：?（或“N”NO）。選擇時(shí)，光標(biāo)移至選擇標(biāo)記處，通過調(diào)節(jié)▲、▼光標(biāo)健在?、?之間切換。?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所選標(biāo)記被確認(rèn)。

設(shè)定判斷方法中進(jìn)行數(shù)字調(diào)整時(shí)，除有數(shù)字指示外，在波形上還有游標(biāo)指示，使調(diào)節(jié)更加形象直觀。

a) 面積比較法（AREA SIZE）：

通過比較波形與中線所包圍的面積差異來判斷測試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形的重合程度。

對應(yīng)面積比較(A)第一個(gè)參數(shù)：判斷的起點(diǎn)；第二個(gè)參數(shù)：判斷的終點(diǎn)；第三個(gè)參數(shù)：差異范圍，單位：百分比%。(通常初始設(shè)定范圍在10~20%)

參數(shù)的數(shù)值調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

測試時(shí)，脈沖式線圈測試儀對設(shè)定范圍內(nèi)的波形面積進(jìn)行比較，超出差異范圍設(shè)定值則不合格。

b) 面積差比較法（DIFFERENTIAL AREA）：

通過標(biāo)準(zhǔn)波形與測試波形所包圍的面積與標(biāo)準(zhǔn)波形面積的值來判斷與標(biāo)準(zhǔn)波形的重合程度。

對應(yīng)面積差比較（D）第一個(gè)參數(shù)：判斷的起點(diǎn)；第二個(gè)參數(shù)：判斷的終點(diǎn)；第三個(gè)參數(shù)：差異范圍，單位：百分比%。(通常初始設(shè)定范圍在10~20%)

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

測試時(shí)，脈沖式線圈測試儀根據(jù)測試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形的差異來計(jì)算面積差，當(dāng)面積差與標(biāo)準(zhǔn)波形的面積比值超過設(shè)定值則不合格。

c) 電暈放電量比較法（FLUTTER VALUE）：

通過對被測線圈選定范圍內(nèi)實(shí)測波形包含的電暈放電尖峰中所檢出高頻成分面積(積分)的計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較，判定電暈放電量是否合格。

對應(yīng)電暈量比較（F）的第一個(gè)參數(shù)：判斷的起始點(diǎn)；第二個(gè)參數(shù)：判斷的終止點(diǎn)；第三個(gè)參數(shù)：差值范圍。(通常初始設(shè)定范圍在20左右)

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

通過對被測線圈波形包含的電暈放電尖峰中所檢出高頻成分面積(積分)的計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較，當(dāng)差值范圍超過設(shè)定值則不合格。

d) 相位比較法（ZERO CROSS過零點(diǎn)比較法）：

通過對過零點(diǎn)的位置差異來判斷與標(biāo)準(zhǔn)波形的重合程度。

對應(yīng)相位比較（C）第一個(gè)參數(shù)：所選定的過零點(diǎn)；第二個(gè)參數(shù)：差值范圍，單位為采樣點(diǎn)數(shù)。

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

液晶顯示波形第一個(gè)過零點(diǎn)為電容放電的過零點(diǎn)，第二個(gè)過零點(diǎn)為線圈的自激振蕩，所以設(shè)定條件應(yīng)從第二過零點(diǎn)開始，測試時(shí)，當(dāng)所測試的線圈過零點(diǎn)的位置超過設(shè)定值則不合格。

4． 編輯保存：

a） 設(shè)定編號：

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到設(shè)定編號No指示處，通過▲、▼光標(biāo)健設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)波形編號值，?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所設(shè)定方式被確認(rèn)。

00編號的存儲單元為快速測試專用存儲單元。01~99編號的存儲單元為普通線圈存儲單元。

b） 設(shè)定名稱：

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到設(shè)定名稱NAME指示處，通過▲、▼光標(biāo)健選擇0~9數(shù)字或A~Z英文字符，?、?光標(biāo)鍵移到下一項(xiàng)時(shí)，所設(shè)定方式被確認(rèn)。

名稱由4位0~9數(shù)字和（或）A~Z26英文字符組成。每一位字符選擇同上。

c） 標(biāo)準(zhǔn)波形及參數(shù)的儲存

按ESC鍵，儀器提示“需要保存編輯內(nèi)容嗎？”，此時(shí)按ESC鍵，不保存并退出至待測狀態(tài)。

按OK鍵，若編輯的是未存儲過的單元（編號），編輯結(jié)果保存并退出至待測狀態(tài)；若編輯的是已存儲過的單元，儀器會提示“確定覆蓋XX號單元嗎？”，此時(shí)按OK鍵保存并退出至待測狀態(tài)；按ESC鍵，返回至設(shè)定編號及名稱，以便重新設(shè)定。

再按OK、ESC鍵重復(fù)以上操作。本儀器最多可以存儲100個(gè)標(biāo)準(zhǔn)波形及參數(shù)。

d） 外部RS232附件多繞組方式時(shí)，存儲單元編號按照01與05一組、06與10一組……96與99一組（共20組）規(guī)律存儲。

5． 標(biāo)準(zhǔn)波形修改：

a） 從載入處選擇要修改的波形編號并確認(rèn)，轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

b） 進(jìn)入編輯狀態(tài)，進(jìn)行編輯操作。

七、特殊設(shè)定

聲響設(shè)置

a) 特殊設(shè)定狀態(tài)下，調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到聲響設(shè)定指示處，聲響方式高亮顯示在液晶顯示屏的右上角。

b) 聲響設(shè)置狀態(tài)下，通過▲、▼光標(biāo)健選擇并確認(rèn)聲響方式（合格聲響、不合格聲響、靜音、混合聲響）。

八、查詢

按下查詢鍵，儀器進(jìn)入查詢狀態(tài)。

1． 查詢當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)波形的參數(shù)設(shè)置。

2． 查詢當(dāng)前被測波形及其與標(biāo)準(zhǔn)波形的比較結(jié)果。

九、清除

刪除已經(jīng)儲存的波形及參數(shù)。

1. 任何時(shí)候按下清除鍵，儀器進(jìn)入清除狀態(tài)。

液晶顯示器顯示所存儲的標(biāo)準(zhǔn)波形的編號及其參數(shù),并給出刪除模式：“選擇清除”、“全部清除”。

2. 全部清除

刪除所有存儲波形，需慎重操作。

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到“全部清除”處（儀器提示：確定全部刪除嗎？或Are You Sure？），按下OK鍵全部刪除，按下ESC鍵返回。

3. 選擇清除

刪除所選擇編號波形。

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到“選擇清除”處，通過▲、▼光標(biāo)健選擇所要刪除的波形，按下OK鍵刪除，按下ESC鍵返回。

4. 退出

任何時(shí)按下ESC鍵退出并轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

調(diào)節(jié)?、?光標(biāo)鍵，移動光標(biāo)到“退出”處，按下OK鍵退出并轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

5. 保留單元

00號存儲單元為系統(tǒng)保留單元，儀器在任何清除狀態(tài)下00號存儲單元也不會被清除。