絕緣電阻測(cè)試問(wèn)題集錦（下）

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絕緣電阻測(cè)試問(wèn)題集錦（下）

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上期我們說(shuō)到絕緣電阻測(cè)試中常見(jiàn)的6個(gè)問(wèn)題，接下來(lái)繼續(xù)聊一聊還存在幾個(gè)問(wèn)題以及在操作中我們應(yīng)當(dāng)注意些什么。
7、在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，兆歐表輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么？
答：兆歐表輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過(guò)程的開(kāi)始階段，絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到兆歐表的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測(cè)試中是一起流入兆歐表內(nèi)的。兆歐表測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量兆歐表。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求兆歐表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的兆歐表。
8、為什么不同兆歐表測(cè)出示值存在差異？
答：由于高壓兆歐表測(cè)試電源非理想電壓源，內(nèi)阻Ri不同測(cè)量回路串接電阻Rm不同，動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度不同，以及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量操作的不合理或失誤等，不同型號(hào)兆歐表對(duì)同一被測(cè)試品的測(cè)量結(jié)果會(huì)存在差異。實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)結(jié)合兆歐表絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低可能出現(xiàn)的各種測(cè)量誤差：
（1）不同型號(hào)的絕緣表測(cè)量同一試品時(shí)，應(yīng)采用相同的電壓等級(jí)和接線方法。例如在測(cè)量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當(dāng)繞組引出端始終接兆歐表L端鈕時(shí)，就有： E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法； E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的表面，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線方法。不同結(jié)構(gòu)、制式的兆歐表，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表面的安放位置也應(yīng)隨之改變位。
（2）不同型號(hào)兆歐表的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測(cè)量準(zhǔn)確度等級(jí)不同，都會(huì)引起示值間的差異。為了保證對(duì)電力設(shè)備的準(zhǔn)確測(cè)量，應(yīng)避免選用準(zhǔn)確度低，使用不方便的搖表。
（3）試品大多含容性分量，并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測(cè)試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。
（4）測(cè)量時(shí)，絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。
（5）應(yīng)在特定時(shí)間段的允許時(shí)間差范圍內(nèi)，盡快地讀取測(cè)量值。為使測(cè)量誤差不高于±5%，讀取R60S的時(shí)間允許誤差±3S，而讀取R15S的時(shí)間不應(yīng)相差±1S。
（6）高壓測(cè)試電源非理想電壓源，重負(fù)荷（被測(cè)試品絕緣電阻值?。r(shí)，輸出電壓低于其額定值，這將導(dǎo)致單支路直讀測(cè)量法兆歐表測(cè)量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換系數(shù)的改變而降低。這種改變因兆歐表測(cè)試電源負(fù)荷特性不同而異。
（7）不同動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)的兆歐表，試驗(yàn)電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立過(guò)程與對(duì)試品的充電能力均存在差異，測(cè)量結(jié)果也會(huì)不同，使用低于動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)門(mén)限值的兆歐表測(cè)量時(shí)，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡(luò)（包括指針式儀表的機(jī)械慣性）導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來(lái)不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律，尤其是在測(cè)試的起始階段，電容充電電流未完全衰減為零，更會(huì)使R15S和吸收比讀測(cè)值產(chǎn)生較大誤差（偏小）。
（8）試品絕緣介質(zhì)極化狀況與外加試驗(yàn)電壓大小有關(guān)。由于試驗(yàn)電壓不能迅速達(dá)到額定值，或因兆歐表測(cè)試電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上試驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻測(cè)量的示值不同。
（9）國(guó)外某些兆歐表的試驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開(kāi)機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額定值。兆歐表讀數(shù)起始時(shí)間的不確定性，以及高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的差別。
（10）不同兆歐表現(xiàn)場(chǎng)干擾的敏感度和抵御能力不同，對(duì)同一試品的讀測(cè)值會(huì)存在差異。
（11）數(shù)據(jù)隨機(jī)起伏的常規(guī)測(cè)量誤差和兆歐表方法誤差不同等引起示值間的差異。
（12）介質(zhì)放電不充分是重復(fù)測(cè)量結(jié)果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對(duì)應(yīng)和可逆的特點(diǎn)，若需對(duì)同一試品進(jìn)行第二次重復(fù)測(cè)量，第一次測(cè)量結(jié)束后的試品短路放電間歇時(shí)間一般應(yīng)長(zhǎng)于測(cè)量時(shí)間，以放盡所積聚的吸收電荷量，使試品絕緣介質(zhì)充分恢復(fù)到原先無(wú)極化狀態(tài)，否則將影響第二次測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。為使被試品上無(wú)剩余電荷，每一次試驗(yàn)前也應(yīng)該將測(cè)量端對(duì)地短路放電，有時(shí)甚至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)拆除與無(wú)關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線?？傊辉嚻凡煌瑫r(shí)期的絕緣測(cè)量，應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級(jí)和接線方法，并盡可能使用同一型號(hào)或性能相近的絕緣電阻表，以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可比性。
（13）最后還應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)選用動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度較低和高壓測(cè)試電源容量較低的儀表，由于電容充電電流尚未完全衰減為零，以及儀表示值不能準(zhǔn)確地實(shí)時(shí)跟隨試品視在絕緣電阻值的變化，讀測(cè)R15S阻值偏低，出現(xiàn)較大誤差，導(dǎo)致試品吸收比測(cè)試值虛假偏高，應(yīng)引起測(cè)試人員特別重視。這也可能是各種型號(hào)高壓兆歐表測(cè)量同一試品時(shí)吸收比讀測(cè)值存在差異的主要原因。由此也說(shuō)明吸收比判比指標(biāo)不及極化指數(shù)科學(xué)和客觀。
9、絕緣電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)容性負(fù)載時(shí)（如主變），指針顯示阻值在某一區(qū)間突然跌落（不是正常測(cè)試時(shí)的最大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動(dòng)），快速來(lái)回?cái)[動(dòng)，是什么原因？
答：造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測(cè)試品充電中，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí)，如果儀表內(nèi)部測(cè)試線或被測(cè)試品中任一部位有擊穿放電打火，就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。判別辦法：
（1）儀表測(cè)試座不接入測(cè)試線，開(kāi)啟電源和高壓，看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生（若有打火可聽(tīng)到放電打火聲）。
（2）接上L、G、E測(cè)試線，不接被測(cè)試品，L測(cè)試線末端線夾懸空，開(kāi)啟高壓，看測(cè)試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則檢查：a）L、G測(cè)試線芯線（L端）與裸露在外的線（G端）是否過(guò)近，產(chǎn)生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測(cè)試座屏蔽環(huán)或測(cè)試夾子與被測(cè)試品接觸不良造成打火。c）測(cè)試線與插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電。
（3）接入被測(cè)試品，檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無(wú)放電打火。排除以上原因，接好被測(cè)試品，開(kāi)啟高壓，若儀表仍有上述現(xiàn)象則說(shuō)明被測(cè)試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。